簡(jiǎn)要描述：

日本filmetrics自動(dòng)膜厚測(cè)量系統(tǒng)F50
主要特點(diǎn)
結(jié)合基于光學(xué)干涉原理的膜厚測(cè)量功能和自動(dòng)高速載物臺(tái)的系統(tǒng)
以過(guò)去無(wú)法想象的速度測(cè)量點(diǎn)的膜厚和折射率
兼容2英寸至450毫米的硅基板，可任何測(cè)量點(diǎn)

在線咨詢點(diǎn)擊收藏

詳細(xì)介紹

日本filmetrics自動(dòng)膜厚測(cè)量系統(tǒng)F50

主要特點(diǎn)

結(jié)合基于光學(xué)干涉原理的膜厚測(cè)量功能和自動(dòng)高速載物臺(tái)的系統(tǒng)
以過(guò)去無(wú)法想象的速度測(cè)量點(diǎn)的膜厚和折射率
兼容2英寸至450毫米的硅基板，可任何測(cè)量點(diǎn)

F50自動(dòng)測(cè)繪膜厚測(cè)量系統(tǒng)是將基于光學(xué)干涉原理的膜厚測(cè)量功能與自動(dòng)高速載物臺(tái)相結(jié)合的系統(tǒng)。
以過(guò)去無(wú)法想象的速度測(cè)量點(diǎn)的膜厚和折射率。它支持從2英寸到450毫米的硅基板，并且可以任何測(cè)量點(diǎn)。
還有與大型玻璃基板兼容的可選產(chǎn)品。

主要應(yīng)用

半導(dǎo)體平板薄膜太陽(yáng)能電池

抗蝕劑、氧化膜、氮化膜、非晶/多晶硅、拋光硅片、化合物半導(dǎo)體襯底、?T襯底等。

單元間隙、聚酰亞胺、ITO、AR膜、
各種光學(xué)膜等。

CdTe、CIGS、非晶硅等

砷化鋁鎵（AlGaAs）、磷化鎵（GaP）等

測(cè)量示例

薄膜厚度分析 FIL Mapper 軟件具有強(qiáng)大而*的薄膜厚度分析算法和可以讓您輕松測(cè)量點(diǎn)的功能。

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細(xì)地址：
補(bǔ)充說(shuō)明：
驗(yàn)證碼：

請(qǐng)輸入計(jì)算結(jié)果（填寫(xiě)阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

上一篇：1332B-R日本進(jìn)口昭和測(cè)器SHOWA振動(dòng)計(jì)
下一篇：G-103栽培，農(nóng)業(yè)實(shí)驗(yàn)用氧氣濃度計(jì)

JZZIJZZIJ亚洲乱熟无码,亚洲AV无码乱码在线观看富二代,被强行灌满精子的少妇,狠狠色丁香婷婷综合

簡(jiǎn)要描述：

主要特點(diǎn)

主要應(yīng)用

測(cè)量示例

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細(xì)地址：

補(bǔ)充說(shuō)明：

驗(yàn)證碼：

電話